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有關(guān)于一維測(cè)高儀的使用特點(diǎn)
日期：2025-09-01 16:20
瀏覽次數(shù)：2087
摘要：
一維測(cè)高儀的重點(diǎn)用于優(yōu)點(diǎn)：
1.適合現(xiàn)場(chǎng)及質(zhì)檢室的量檢及抽檢
2.本身具有線(xiàn)形補(bǔ)正，可依現(xiàn)場(chǎng)條件做精度補(bǔ)正，以提高**度，避免條件差別。
3.可提供多種量測(cè)，解決一般工具無(wú)法量測(cè)的問(wèn)題。
一維測(cè)高儀的重點(diǎn)用于參數(shù)表格如下：
1.適合現(xiàn)場(chǎng)及質(zhì)檢室的量檢及抽檢
2.本身具有線(xiàn)形補(bǔ)正，可依現(xiàn)場(chǎng)條件做精度補(bǔ)正，以提高**度，避免條件差別。
3.可提供多種量測(cè)，解決一般工具無(wú)法量測(cè)的問(wèn)題。
一維測(cè)高儀的重點(diǎn)用于參數(shù)表格如下：
|
型 號(hào) |
V304+/V304C+/V305/V304C |
V604+/V604C+ |
V1004C |
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量測(cè)范圍 |
0-300mm |
0-600mm |
0-1000mm |
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分辨率 |
0.01/0.001mm |
0.01/0.001mm |
0.01/0.001mm |
|
*大可以差別 |
2.5+(L(mm)/400)μm |
2.5+(L(mm)/400)μm |
2.5+(L(mm)/400)μm |
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重復(fù)性 |
1μm(+/-2S) |
1μm(+/-2S) |
1μm(+/-2S) |